Los ladrones escaparon sin ningún botín tras ser perseguidos por varias patrullas policiales y los vigilantes del polígono Fuente del Jarro
Una banda de butroneros asaltó, por segunda vez este año, el almacén de una de las principales empresas distribuidoras de informática de la Comunitat Valenciana. El sistema de alarma, al igual que en la ocasión anterior, y la rápida actuación de los vigilantes de seguridad y de la Policía Local de Paterna frustraron el robo en el polígono industrial Fuente del Jarro.
Los ladrones llegaron a realizar un agujero en una pared lateral de la nave, pero fueron descubiertos porque utilizaron un inhibidor de frecuencias y el sofisticado sistema de alarma detectó el aparato. Tras recibir el aviso de un posible robo en una empresa del polígono, tres vigilantes acudieron con urgencia. También se movilizaron varias patrullas de la Policía Local, cuyo retén se encuentra en Fuente del Jarro, que llegaron de inmediato.
Tres ladrones saltaron la valla del recinto y subieron a un Renault Latitude para escapar a toda velocidad por las calles del polígono. Una patrulla de la Policía Local cruzó su vehículo en la calle Villa de Bilbao para intentar evitar la huida de los butroneros. Sin embargo, el ladrón que conducía el Renault pisó a fondo el pedal del acelerador en lugar de frenar. El agente decidió entonces apartar el vehículo policial en el último momento. Su rápida acción evitó la colisión entre los dos coches. Los delincuentes continuaron la fuga por el 'by-pass' en dirección a Barcelona y lograron escapar. Los hechos ocurrieron el jueves por la noche.
La policía sospecha que estos mismos ladrones ya intentaron desvalijar la misma empresa el pasado 11 de octubre, cuando también huyeron tras saltar la alarma primero y chocar después con un vehículo policial. Fuente del Jarro es uno de los polígonos que menos robos sufre al contar con vigilancia privada y una central de la Policía Local. Hace un mes, una banda desvalijó una empresa de joyería tras forzar con una lanza térmica las cajas fuertes.
